贝克曼库尔特新一代 LS 13 320 XR，是一款全自动、高分辨率、高准确性、高重现性以及操作非常简单的干湿两用粒度分析仪，它将激光衍射粒度分析仪提升到了一个更高的水平。
- 升级版 PIDS 专利技术（发明专利：4953978，5104221）真正实现10nm粒径测量，优化的132枚检测器保证了仪器分辨率
- 干法样品台采用龙卷风专利分散技术（美国发明专利:US00645414B-1）。整个系统不仅完全满足粒度表征的需求，可以测量粒径范围更宽的颗粒（10nm-3500um），而且高分辨率+特色样品台，不论样品是单峰、双峰还是多峰，不论纳米、微米还是纳微米，均可以更快、更可靠地检测到颗粒粒径间极细微的差异，实现高分辨率的检测。
132 枚检测器，超高分辨率，准确测量细微差异
X-D阵列检测器 - 确保微米颗粒高分辨率的准确测量
- 特殊设计X型对数排布检测器阵列，可以准确记录散射光强信号，获得真实准确的粒度分布
- 132枚检测器能够清晰区分不同粒度等级间散射光强谱图差异，快速、准确的提供真实粒度分布
- 优化的检测器信噪比，大大提高了检测到散射光强谱图细微变化的能力
PIDS专利技术：偏振光强度差散射 - 真正实现纳米颗粒测量
- 传统方法测量亚微米颗粒依靠背散射光，其散射光强谱图在形状和强度上都非常相似，区分比较困难，因此由于分辨率低而造成不准确的粒度测量。
- 亚微米颗粒在水平和垂直偏振光下可形成差异的散射谱图，而这些差异便是亚微米颗粒识别的重要信息。
- PIDS技术采用了3种不同波长的光顺次照射样品，首先为垂直偏振，然后为水平偏振，通过分析每个波长的水平和垂直辐射光之间的差异，便可获得亚微米样品准确的粒度分布信息
- 升级版PIDS专利技术从光源到滤波器再到检测器都进行了全面的升级，使得测量亚微米颗粒的动态范围和分辨率都得到了更大程度上的提高。
ADAPT多峰样品自动检测，更放心
- 凭借业界出众的技术，无需预估样品峰型（比如多峰、窄分布），无需选择分析模型，轻松准确分析多峰样品，让您对测试结果更放心
- 准确性误差优于±0.5%
- 重复性误差优于0.5%
数据完整性及合规性
LS 13 320 XR激光衍射粒度分布分析仪配备符合GMP要求的验证程序，可满足安装验证（IQ）和运行验证（OQ）所需。
简单、直观的操作软件
- 从开始测量到获得结果仅需 2 次点击
- 包含集成的光学常数数据库
- 随时向您通报有用的用户诊断报告
- 精简的工作流不仅易于使用，更节省时间
应用
广泛应用于土壤、沉积物、面粉、淀粉、奶粉、食品添加剂、饮料、黏合剂、合金、金属粉末、硅微粉、3D打印、涂料、颜料、药物、矿物、纸、化妆品、煤粉、锂离子电池材料、建材纺织、甚至生物颗粒等应用领域
擅长样品类型：
- 宽分布样品
- 极限颗粒（纳米、>1000微米）
- 多峰样品
- 数量微小变化
